SliT128D QA用プローブカード

概要

J-PARC muon g-2/EDM実験用シリコンストリップ検出器のために開発された読み出しASIC(SliT128D)のベアチップを基板へ実装する前に品質検査するため、プローバーに設置して使用するプローブカードの開発を行う。基本的な機能は試作版のASICの評価試験に用いた基板と同じであるが、基板に直接実装する場合と異なり、プローブ針を通してASICへの電源供給や信号読み出しを行う必要がある。またプローブしながらのバイアス電圧調整を行えるよう、遠隔操作可能な機能を追加する。

メンバー

山中隆志（代表:九州大学、助教）
佐藤優太郎（新潟大学、助教）
小川真治（九州大学、特別研究員-PD）
岡崎佑太（KEK、研究員）
庄子正剛（KEK Esys）
藤田陽一（KEK Esys）

機能・特徴

ASICベアチップのプローブカードによる動作確認
デジタル信号処理は市販のFPGA評価ボード（Digilent社Nexys Video）をFMCコネクタで接続して行う

Nexys Video: Artix-7 FPGA搭載
Nexys VideoとはEthernetでパソコンと通信

LEMOコネクタによる入出力

Write Start信号入力（FPGAへの汎用入力としての使用も可）
Test puse入力
アナログモニタ出力（3種類）

バイアス電圧モニタ・外部電圧入力用に2.54 mmピッチピンヘッダ搭載
基板上の可変抵抗によるバイアス電圧調整

ジャンパーピンにより外部電圧印加に切り替えも可能

プローブ針立ては株式会社日本マイクロニクスにて実施

カンチレバータイププローブカード
プローブ針材質：ReW

公開リソース

回路図（Open-Itメンバーにのみ公開）
基板レイアウト図面（Open-Itメンバーにのみ公開）

図・写真等