RADIATION
メンバー
- 戸本 誠（代表：名古屋大学）
- 佐々木修（IPNS KEK）
- 田中真伸（IPNS KEK）
- 池田博一（ISAS)
概要
トランジスタ及びメモリの放射線耐性（TID:Total ionizing dose effect, SEE single event effect)を使用プロセスに対して確認し情報を保持する。
機能・特徴
トランジスタTEGは３種類
リソース
- 回路図、レイアウト（NDA締結後オープン）
- 放射線試験データ（Open-It関係者に公開）
- プレゼンテーション等(合意がとれた物を公開する予定）
図・写真等
関連リンク
発表論文リスト
2011/1/24 名古屋大学修士論文 志知秀治 ”ATLAS実験のアップグレードに向けた高放射線耐性を持つmu粒子トリガー回路系ASICの開発研究"(インターナル）
