現在位置: ホーム / R&D Project / SliT128D QA用プローブカード

SliT128D QA用プローブカード

概要

J-PARC muon g-2/EDM実験用シリコンストリップ検出器のために開発された読み出しASIC(SliT128D)のベアチップを基板へ実装する前に品質検査するため、プローバーに設置して使用するプローブカードの開発を行う。基本的な機能は試作版のASICの評価試験に用いた基板と同じであるが、基板に直接実装する場合と異なり、プローブ針を通してASICへの電源供給や信号読み出しを行う必要がある。またプローブしながらのバイアス電圧調整を行えるよう、遠隔操作可能な機能を追加する。

メンバー

  • 山中隆志(代表:九州大学、助教)
  • 佐藤優太郎(新潟大学、助教)
  • 小川真治(九州大学、特別研究員-PD)
  • 岡崎佑太(KEK、研究員)
  • 庄子正剛(KEK Esys)
  • 藤田陽一(KEK Esys)

機能・特徴

  • ASICベアチップのプローブカードによる動作確認
  • デジタル信号処理は市販のFPGA評価ボード(Digilent社Nexys Video)をFMCコネクタで接続して行う
    • Nexys Video: Artix-7 FPGA搭載
    • Nexys VideoとはEthernetでパソコンと通信
  • LEMOコネクタによる入出力
    • Write Start信号入力(FPGAへの汎用入力としての使用も可)
    • Test puse入力
    • アナログモニタ出力(3種類)
  • バイアス電圧モニタ・外部電圧入力用に2.54 mmピッチピンヘッダ搭載
  • 基板上の可変抵抗によるバイアス電圧調整
    • ジャンパーピンにより外部電圧印加に切り替えも可能
  • プローブ針立ては株式会社日本マイクロニクスにて実施
    • カンチレバータイププローブカード
    • プローブ針材質:ReW

公開リソース

図・写真等

プローブカード表面の写真
プローブカード裏面の写真

関連リンク

発表論文、学会発表リスト

  • 「J-PARC muon g-2/EDM実験:陽電子飛跡検出器用読み出しASIC品質保証システムの開発」, 山中隆志, 計測システム研究会2021@九州大学, 2021年10月,福岡, リンク
  • 「J-PARC muon g-2/EDM実験:シリコンストリップ検出器用読み出しASICのための品質検査システム」, 山中隆志 他, 日本物理学会 第77回年次大会, 2022年3月, オンライン, リンク

プロジェクトメンバー

各プロジェクトのメンバー用ページを閲覧するためには、ログインとプロジェクトごとのアクセス権が必要です

ナビゲーション