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RADIATION

メンバー
  • 戸本 誠(代表:名古屋大学)
  • 佐々木修(IPNS KEK)
  • 田中真伸(IPNS KEK)
  • 池田博一(ISAS)
概要

トランジスタ及びメモリの放射線耐性(TID:Total ionizing dose effect, SEE single event effect)を使用プロセスに対して確認し情報を保持する。

機能・特徴

トランジスタTEGは3種類

 

リソース
  • 回路図、レイアウト(NDA締結後オープン)
  • 放射線試験データ(Open-It関係者に公開)
  • プレゼンテーション等(合意がとれた物を公開する予定)
図・写真等

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TrTEG図

関連リンク

名古屋大学N研

発表論文リスト

2011/1/24 名古屋大学修士論文 志知秀治 ”ATLAS実験のアップグレードに向けた高放射線耐性を持つmu粒子トリガー回路系ASICの開発研究"(インターナル)

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